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  • HED-G20叶面积指数测定仪

    叶面积指数测定仪用于各种高度植物冠层的研究,利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像,通过分析软件,获得植物冠层的相关指标和参数。

    访问次数:249    产品价格:48000    厂商性质:生产厂家    更新日期:2021-03-09

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