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薄膜介质损耗仪介电常数测试仪

薄膜介质损耗仪介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。

产品品牌：霍尔德•电子

价格：我要询价

厂商性质：生产厂家

产品时间： 2025-06-20

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产品概述

介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。

薄膜介质损耗仪介电常数测试仪是一种用于精确测量材料介电性能的专业仪器，主要应用于以下领域：

1.科研机构——用于新型电介质材料的性能分析与理论研究，为材料科学领域的创新提供实验依据；

2.高等院校——作为教学与科研的重要设备，支撑材料学、物理学、电子工程等学科的实验研究；

3.工业企业——用于无机非金属材料（如陶瓷、玻璃、高分子复合材料等）的质量控制与性能优化，指导产品开发与工艺改进。

该仪器在电子元器件、绝缘材料、新能源器件等领域具有广泛的应用价值，为新型功能材料的研发与产业化提供关键测试手段。

薄膜介质损耗仪介电常数测试仪

薄膜介质损耗仪介电常数测试仪参考标准

u GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法；

u GB/T 1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；

u ASTM-D150-介电常数测试方法；

u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法。

技术参数

1	信号源	DDS数字合成 10KHZ-70MHz
2	采样精度	11BIT
3	测量范围	1-1000自动/手动量程
4	分辨率	0.1
5	测量工作误差	<5%
6	电感测量范围	分辨率0.1nH
7	电感测量误差	<3%
8	调谐电容	主电容30-540pF
9	电容直接测量范围	1pF～2.5uF
10	调谐电容误差	±1 pF或<1% 0.1pF
11	谐振点搜索	自动扫描
12	合格预置范围	5-1000声光提示
13	LCD显示参数	F，L，C，Q，Lt，Ct等
14	介质损耗系数精度	万分之一
15	介电常数精度	千分之一
16	材料测试厚度	0.1mm-10mm
17	技术	仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。